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來(lái)源：何超|
發(fā)表時(shí)間：2017-11-13
點(diǎn)擊：6623
儀器型號(hào)：S-4800
測(cè)試分類：SEM SEM MAPPING SEM EDX
測(cè)試要求：樣品必須是化學(xué)上物理上穩(wěn)定的干燥固體，表面清潔，在真空中及電子束轟擊下不揮發(fā)或變形，無(wú)反射和腐蝕性
尺寸和形態(tài)上無(wú)嚴(yán)格要求，X射線微區(qū)成分分析試樣必須磨平，拋光。
試樣必須導(dǎo)電，對(duì)于不導(dǎo)電試樣或鑲嵌試樣，需附有導(dǎo)電膠帶
測(cè)試周期：5個(gè)工作日
聯(lián)系人：何超 15195693784
